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» 【绝对干货】高精度逐次逼近型ADC支持电路的设计和故障排除
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【绝对干货】高精度逐次逼近型ADC支持电路的设计和故障排除
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520503
发表于 2015-8-28 10:49
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【绝对干货】高精度逐次逼近型ADC支持电路的设计和故障排除
空间
高精度逐次逼近型ADC支持电路的结构
SAR基准电压源分为内部与外部
内部基准电压源
易于使用
节省空间
外部基准电
无与ADC集成的基准电压源
最佳性能(噪声、ppm/C漂移和初始精度)
可能获得更好的功效/多个ADC
SAR基准电压输入
REF是开关电容输入
每一位电容ADC在位检验过程中均会切换至REF
电荷再分配会导致从REF吸取电荷
动态电流负载
吞吐速率的函数
内部位检验时钟的函数
MSB需要最大电荷
使用500欧姆电阻测得的电流
电流尖峰高达2.5mA
需要大储能电容,以获得稳定的基准电压
通常为10uF或以上
减少基准电压源驱动时的负担
基准电压源电路在转换之间为储能电容充电
ADC基准电流规定为特定吞吐速率时的平均电流
平均电流与吞吐速率成比例
基准电压输出驱动
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