是德科技推出业界首款集成可调节码间干扰功能的比特误码率测试仪 下一代, 测试仪, 误码率, 比特

2015 年 1 月 30 日，北京——是德科技公司（NYSE：KEYS）日前宣布，推出集成可调节码间干扰（ISI）功能的 J-BERT M8020A 高性能 比特误码率测试仪。当工程师表征高速数字接收机以及测试其一致性时，通常需要仿真一定程度的通道损耗。最新的可调节和可编程 ISI 功能使工程师可以仿真这种通道损耗。该功能集成在 J-BERT M8020A 的每一个码型发生器通道中，因此无需连接外部电缆和切换外部 ISI 轨迹，使测试的设置步骤极大简化。

研发和验证团队在表征下一代数字设计时会面临几项测试挑战。随着数据速率的持续提高，发射机与接收机之间的通道损耗也逐渐变大。产生损耗的原因包括信号路径中的印刷电路板轨迹、连接器和电缆，而通道损耗会进一步产生 ISI。通道材料和尺寸大小、数据速率和比特码型都对 ISI 有很大影响。所有高速数字接收机在技术指标上会留出裕量，以容忍一定程度的总体抖动，包括由通道损耗所引发的 ISI。在接收机表征和一致性测试过程中，工程师需要仿真这一损耗。以前采用的方法是使用外部轨迹电路板，这需要工程师连接外部线缆和进行切换，整个设置过程不仅费时，而且非常复杂。

是德科技副总裁兼数字光测试部总经理 Juergen Beck 表示：“M8020A 高性能 比特误码率测试仪 具有目前同类产品中最高的集成度，使工程师可以快速和精确地完成接收机表征和一致性测试。借助最新的、独一无二的集成可调节 ISI 功能，M8020A 在帮助工程师应对新一代高速数字设计的测试挑战方面为业界树立了全新的标杆。”

J-BERT M8020A 高性能比特误码率测试仪 能够帮助工程师更快获得数字设计的分析结果。它可以对数据速率分别高达 16 Gb/s 和 32 Gb/s 的单通道和多通道器件实施快速和准确的接收机表征。内置 ISI 功能可以通过编程控制每个码型发生器通道，无需连接和切换外部轨迹，从而极大简化接收机的自动测试，实现高达 16 Gb/s 的数据速率。最新可调节 ISI 选件具有以下优势：

• 集成度最高，简化接收机测试设置
• 支持高达 25 dB 和 16 GHz 的宽损耗范围，以及线性损耗曲线和精细步进分辨率，从而可以提供精确和可重复的接收机表征和一致性测试结果
• 可以通过升级选件加入完全可扩展和可升级的接收机测试解决方案中