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TR-518系列ICT训练 (精品的说)连载!

C//R或L//R: 籍相位法辅助   |Y’|Sinθ=|Ycx|,即ωCx’Sinθ=ωCx 求得:Cx=Cx’Sinθ (Cx’=Ix’/2лfVs)   |Y’|Sinθ=|Ycx|,即Sinθ/ωCx’ =1/ωCx 求得:Lx=Lx’/Sinθ (Lx’=Vs/2лfIx’)       3.  量测PN结:(D、Q、IC) 信号源0-10V/3mA or 30mA可程式电压源, 量PN结导通电压 4.   量测Open/Short: 即以阻抗判定:先对待测板上所有Pin点 进行学习,R<25Ω即归为Short Group,然 后Test时进行比较,R<5Ω判定为Short, R>55Ω判为Open. 5. Guarding(隔离)的实现: 当Rx有旁路(R1)时, Ix=Is-I1≠Is, 故:Vx/Is≠Rx 此时取A点电位Va,送至C点,令 Vc=Va,则:I1=(Va-Vc)/R1=0, Is=Ix 从而:Vx/Is=Rx    
程式的编写
1. 在T[测试]下,设定P“测试参数”
&nbsp;   2. 在E[编辑]下,编写程式:
  步骤  零件名  实际值   位置   高点  低点  隔点1      2      3      4        5      删略     
        量测值    标准值   上限%  下限%  延迟 信号 类别  重测 中停 补偿值 偏差%
     1     R3     47K    A1    21    101      0       0     0     0      0       0
                      47K    10    10      0     0     0       0      0      0        0
       2     C22   100n    D2     7      52      0       0     0   0      0       0
                        100n    30    30      0       0    0       0    0      0       0         
      3      L1      22u     B2     1     87      0       0      0     0      0      0
                       22u    30    30     0       0      0      0     0       0       0
       4      D5     0.7V    C1    16    19     0       0      0     0       0       0
                        0.7V    20    20    0      0      0      0     0       0       0
1. 进入L[学习],做Short Group学习.若有IC,还
       需做IC Clamping Diode学习。
   2. 在主画面下测试,检验程式及开始Debug。
&nbsp;
程式的Debug
编写好的程式在实测时,因测试信号的选择,或被测元件线路影响,有些Step会Fail(即量测值超出±%限),必须经过Debug
R:在E[编辑]下,ALT-X查串联元件,ALT-P查
       并联元件。据此选好“信号”(Mode)和串联
       最少元件的Hi-P/Lo-P,并ALT-F7选择
        Guarding Pin。

       R//C:Mode2及Dly加大(参考:T=5RC)
       R//D(or IC、Q):Mode1
       R//R:Std-V取并联阻值
       R//L:Mode3、4、5,根据Zl=2πfL,故L一
                  定时,若f越高,则Zl越大,则对R影响
                  越小
C:在[编缉]下一般根据电容值大小,选择相应的
       Mode。如小电容(pF级),可选高频信号
    (Mode2、3),大电容( nF级)可选低频信
      号(Mode0、1),然后ALT-F7选择隔离。

      3uF以上大电容,可以Mode4、8直流测试。
      C//C:Std-V取并联容值
      C//R:Mode5、6、7,由Zc=1/2лfC,故C一定
                 时,f越高,Zc越小,则R的影响越小。
      C//L:Mode5、6、7,并且f越高效果越好。

L:F8测试,选择Mode0、1、2中测试值最接近
       Std-V,然后Offset修正至准确。

       L//R:Mode 5、6、7。
PN结:F7自动调整,一般PN正向0.7V(Si),
             反向(2V以上)。

             D//C:Mode1及加Delay。
             D//D(正向):除正向导通测试,还须测
                                         反向截止(2V以上)以
                                         免D反插时误判。
             Zener:Nat-V选不低于Zener崩溃电压,
                         若仍无法测出崩溃电压,可选
                          Mode1(30mA),另外10-48V
                          zener管,可以HV模式测试
Q:be、bc之PN结电压两步测试可判断Q之类型
    (PNP or NPN),Hi-P一样(NPN),Lo-P一
      样(PNP),并可Debug ce饱和电压(0.2V以
      下),注意Act-V为be偏置电压,越大Q越易进入
      饱和,但须做ce反向判断(须为截止0.2V以上),
      否则应调小Act-V。

不良报表的阅读
见图[upload=bmp]uploadImages/2004625174053.bmp[/upload]
[upload=bmp]uploadImages/2004625174146.bmp[/upload] 以H0代有上限值(标准值,L0代表下限值): L1表示:量测值介于L0与L0-(H0-L0)10%之间 L2表示:量测值介于L1与L0-(H0-L0)20%之间 VL表示:量测值低于L2 H1表示:量测值介于H0与H0+(H0-L0)10%之间 H2表示:量测值介于H1与H0+(H0-L0)20%之间 VH表示:量测值高于H2 不良记录: ******Open Fail****** (48)(45 48)表示48点与短路组(45 48) 断开,可能是探针未接触到PCB焊盘,或板 上有断路。 ******Short Fail****** (20)(23)表示20点与23点短路(R<5Ω), 可能是板上有锡渣造成Short,装错零件造 成Short,零件脚过长造成Short等。 ******Component Fail****** 1     R3 M-V:52.06K,Dev:+10.7%,Act-V=47K Std-V=47K Loc:A1,Hi-P=21 L0-P=101 +LM: +10% -LM:-10% 表示:R3偏差+10.7%,可能为零件变值,或接 触不良。若偏差+999.9%或很大,可能为 缺件、错件超出标准值所在量程上限, (如47K在30K—300K量程内);若偏差 0.00%或很小,可能为短路,错件超出其 标准值所在量程下限。
ICT误判分析
1.  ICT无法测试部分:
     ⑴.记忆体IC(EPROM、SRAM、DRAM…)
     ⑵.并联大10倍以上大电容的小电容
     ⑶.并联小20倍以上小电阻的大电阻
     ⑷.单端点之线路断线
     ⑸.D//L,D无法量测
     ⑹.IC之功能测试

2.  PCB之测点或过孔绿油未打开,或PCB吃锡不
     好。
3.  压床压入量不足。探针压入量应以1/2-2/3为佳。
4.经过免洗制程的PCB板上松香致探针接触不良。
5.PCB板定位柱松动,造成探针触位偏离焊盘。
6.治具探针不良损坏。
7.   零件厂牌变化(可放宽+-%,IC可重新
       Learning)。
8.   治具未Debug好(再进行Debug)。
9.   ICT本身故障。

硬体检测
11. 开关板:诊断(D)----切换电路板(B)----系
                       统自我诊断(S)----切换电路板诊断
                    (S)。

                      若有B* C*表示SWB有Fail,请记录并
                      通知TRI。C*有可能为治具针点有Short造成。

12. 系统自我检测:
        诊断(D)----硬体诊断(S)
                           ----系统自我检测(S)
&nbsp;               
                              有R、D项Fail可能为DC板故障。
                              有C、L项Fail可能AC板Fail。
                              有Power 项Fail可能Power板Fail。
                              也请记录并通知TRI
此文档为PPT,我上传到论坛FTP,想下的朋友去看看吧!

路径ftp://210.51.188.155/新建文件(2)/tr-518系列ict训练--by jsea.rar
怎么不能下载?能不能发到我的mail里边 zhangzzy@jettech.com.cn 谢谢!
,mhj
我要可以吗?
SPLTRP@163.COM谢谢
jase

   没有密码呀
仁兄:
能否给我来一份啊
keda001@126.com
先谢了!
硬体检测
11. 开关板:诊断(D)----切换电路板(B)----系
统自我诊断(S)----切换电路板诊断
(S)。

若有B* C*表示SWB有Fail,请记录并
通知TRI。C*有可能为治具针点有Short造成。
不可能是探针的事!因为在硬体检测时治具不能和机台联接,如果是联接时硬体检测治具针点SHORT会把好的SWB也打死的!

TR-518系列ICT训练 (精品的说)连载!

ICT概念
  1.&nbsp; 何谓ICT?
      ICT即在线测试仪(In Circuit Tester),是一大堆高级
     电表的组合。电表能测到,ICT就能测到,电表测不
     到,ICT可能也测不到。
  2.&nbsp; ICT能测些什么?
       Open/Short,R,L,C及PN结(含二极管,三极管,
       Zener,IC)
  3.&nbsp; ICT与电表有何差异?
      ICT可对旁路元件进行隔离(Guarding),而电表
      不可以。所以电表测不到,ICT可能测得到。
  4.&nbsp; ICT与ATE有何差异?
      ICT只做静态测试,而ATE可做动态测试。即ICT对
      被测机板不通电(不加Vcc/GND),而ATE则通电。

ICT量测原理
1.&nbsp;&nbsp; 量测R:
          单个R(mode0,1):       利用Vx=IsRx(欧姆定律),则
                                              Rx=Vx/Is.   信号源Is取恒流
                                             (0.1uA—5mA),量回Vx即可算
                                               出Rx值.
&nbsp;
&nbsp;
           R//C(mode2):          信号源Vs取恒压(0.2V),量回
                                            Ix,则Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix,算出
                                            Rx值.

&nbsp;R//L(mode3,4,5):       信号源取交流电压源Vs,籍
                                      相位法辅助.
                                       |Y’|Cosθ=YRx=1/Rx,并
                                       |Y’|=I’x/Vs
                                      故:Rx=1/|Y’|Cosθ


2.&nbsp;&nbsp;量测C/L:   
          单个C/L(Mode0,1,2,3):信号源取恒定
                                               交流压源Vs
                                                  Vs/Ix=Zc=1/2лfCx ,求
                                               得:Cx=Ix/2лfVs
                 
                                                Vs/Ix=Zl=2лfLx ,
                                                 求得:Lx=Vs/2лfIx

(图不好粘贴,给省略了)


&nbsp;
我下到了,谢谢!
URC
能否也给我一份,TKS!miaogo20@21cn.com
希望大家能支持我!
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