首页 | 期刊简介 | 编辑部 | 广告部 | 发行部 | 在线投稿 | 联系我们 | 产品信息索取
2024年10月17日星期四
2011年第01期
 
2010年第12期
 
2010年第11期
2010年第11期
 
2010年第10期
2010年第10期
 
2010年第09期
2010年第09期
 
2010年第09期
2010年第08期
 
2010年第07期
2010年第07期
 
2010年第06期
2010年第06期
 
2010年第05期
2010年第05期
 
2010年第04期
2010年第04期
 
2010年第03期
2010年第03期
 
2010年第02期
2010年第02期
 
2010年第01期
2010年第01期
 
2009年第12期
2009年第12期
 
2009年第11期
2009年第11期
 
2009年第10期
2009年第10期
 
2009年第9期
2009年第9期
 
2009年第8期
2009年第8期
 
2009年第7期
2009年第7期
 
2009年第6期
2009年第6期
 
2009年第5期
2009年第5期
 
2009年第4期
2009年第4期
 
2009年第3期
2009年第3期
 
2009年第2期
2009年第2期
 
2009年第1期
2009年第1期
 
2008年第12期
2008年第12期
 
2008年第11期
2008年第11期
 
2008年第10期
2008年第10期
 
2008年第9期
2008年第9期
 
2008年第8期
2008年第8期
 
2008年第7期
2008年第7期
 
2008年第6期
2008年第6期
 
2008年第5期
2008年第5期
 
2008年第4期
2008年第4期
 
2008年第3期
2008年第3期
 
2008年第2期
2008年第2期
 
2008年第1期
2008年第1期
吉时利推出无线通讯与半导体测试方案

记者:郭晶



一向专注于精密测量技术的吉时利仪器,继一月前带来通用测试产品3700系列之后,这一次又以新的两款产品重磅出击无线通信领域和半导体测试领域。连续的市场动作,不仅将其新产品覆盖了半导体、无线、电子电路等多个领域,更将其拓展新兴市场的雄心表露无疑。


MIMO系统解决方案

从 语音服务转向以数据服务为主的无线通信领域,正在面临着更快的数据速率和更多的无线通信标准,因此各种新兴的技术层出不穷。其中,新的传输方法MIMO(多输入多输出)正在日渐普及,从而进一步提高数据速率。MIMO是一种射频技术,它使用多个频段进行数据的收发传输,在射频通信设备中,利用MIMO技术无需增加额外带宽就能提高数据吞吐率。

对此,吉时利推出了4X4 MIMO(多输入多输出)射频测试解决方案,可用于下一代射频通信设备与器件的研发与生产测试。吉时利MIMO射频测试系统包括最新2920型矢量信号发生器(VSG)、2820型矢量信号分析仪(VSA)、2895型MIMO同步单元和功能强大的MIMO信号分析软件。

吉时利4X4 MIMO射频测试解决方案采用基于DSP的软件无线电(SDR)架构,能适应动态无线通信市场快速变化的测试需求,容易进行系统升级。实际上,只需要经过简单软件升级,就能产生或解调调制带宽高达40MHz的所有信号,包括WiMAX Wave 2、4G LTE(长期演进)和UMB(超移动宽带)。

2920可选任意波形发生器带宽为80MHz,可支持4GHz或6GHz的频率,波形存储器深度高达100M次采样。2820型矢量信号分析仪以40MHz带宽作为4GHz或6GHz配置下的标准带宽。两种设备能满足用户对各种商用通信信号的测试需求。2820和2920可以配置为2通道、3通道或者4通道结构。这些具有双重功能的仪器既可用作独立的测试仪,也可用做4X4 MIMO测试系统的一部分。

2895型MIMO同步单元最高可支持4X4的MIMO测试同步。这使测试系统具备能够在多达4台信号分析仪与发生器之间实现高度精确和稳定的对准功能。2895将公共信号,分布到与系统相连的所有测试仪中,支持精确的、可重复的OFDM(正交频分多路复用)MIMO信号的测量。


完整的半导体特征分析系统4200-SCS

在关注无线通讯市场的同时,此次吉时利还为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一款C-V测量模块-- 4200-CVU。C-V测试为圆片测试中的必要一项,目前95%的圆片生产厂商和75%的圆片实验室都需要C-V测试,其典型应用包括器件特征分析、建模、工艺监测、新材料研发和提高可靠性等。

4200-CVU以测量模块的形式插入4200-SCS的任意插槽中,能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法(fF)和纳法(nF)级电容。该设备具有直观的点击式配置界面,线缆连接简单,内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C-V测量结果。
4200-CVU附带完整的测试库,还配备了带有电缆和适配器的专用开关矩阵卡4200-LS-LC-12,通过单针探测能实现高度集成的C-V/I-V测试。还可通过4200-PROBER-KIT模块将4200-SCS与各种广泛使用的探头相连,帮助用户如I-V测试一样轻松配置和执行功能全面的C-V测试。

目前4200可满足广泛的测量应用需求,其中涵盖了种类丰富的探测器、器件类型、制造工艺以及包括脉冲I-V在内的测量方法学。因此,4200-SCS能够提供紧密集成的特征分析解决方案,替代多种电路测试工具。

《世界电子元器件》2007.11
         
版权所有《世界电子元器件》杂志社
地址:北京市海淀区上地东路35号颐泉汇 邮编:100085
电话:010-62985649
E-mail:dongmei@eccn.com