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• 2015年5月26日

  10:00--12:00

  

  • 信号完整性分析和一致性测试
  • 简 介： 随着数据传输的速度不断的提高，各种协议标准的应用，信号完整性以及一致性测试问题变得越来越重要。如何面对各种速率的串行、并行总线；如何更精确快速的定位故障，分析解决问题，是当前设计人员关注的重点。 泰克公司提供了广泛的高性能产品和多种辅助套件为物理层、链路层和协议层的测试提供全面的解决方案。在物理层方面以实时示波器为..
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• 2014年6月25日

  10:00--12:00

  

  • 满足高速吞吐量的需求：如何对半导体生产测试测量进行优化
  • 简 介： 半导体器件测试对测试工程师的挑战在于，如何在确保精确度的情况下，最大化测试产能。高电流和高电压是目前半导体器件测试的崭新挑战。在这次研讨会中，我们能够学到：高速而精准的半导体器件和材料测试；通过正确选择测试电缆确保最佳低电平测量的精准度；使用内置测试脚本和并行测试系统优化量产测试及数据分析；深刻理解在高压测试系统中，四象限源表在..
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• 2014年4月29日

  10:00--12:00

  

  • 如何更简便的进行材料研究和器件设计测量
  • 简 介： 20年前吉时利开启了源表的先河，并开始在该领域不断的探索。2013年首款触摸屏数字源表2450上市，为适应所有这些市场及用户变化，Model 2450包含大量易于使用的特性，确保比竞争解决方案能够更快提供答案，包括基于上下文的帮助功能，加快仪器配置的“Quickset”（快速设置）模式，以及将原始数据快速转变为可用结果的屏幕上绘图功能。 研讨..
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