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测试测量座谈
2011年7月27日
10:00--12:00
频率计的新技术和新应用
简 介:
频率计作为一种高精度的频率测试仪表被广泛应用,泰克推出的第四代全新频率计不仅测试精度更高,速度更快.同时大大扩展了频率计的应用,可以用于雷达,跳频,计数,通信等测试中.本次主要针对泰克频率计的特点,着重阐述新的技术和频率计的各种全新应用.
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2011年7月19日
10:00--12:00
如何合理有效地进行大功率、高亮度LED电性测试
简 介:
主要介绍大功率LED和大功率LED模块的区别,包括PACKAGED方式和不同的测试需求.对于大功率LED模块来说,介绍脉冲工作方式所带来的好处,另外着重强调了在进行大功率测试的时候对测试仪器的严格要求和怎样选择连接线以避免阻抗和感抗所带来的影响.最后介绍另外一种发光二极管的晶闸管效应,包括它的定义,如何进行测试等等。
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2011年6月21日
10:00--12:00
超快速IV测试技术 – 半导体器件特性测试的变革
简 介:
本研讨会介绍了吉时利仪器最新的超快速IV测量技术(Ultra-Fast IV),及其如何影响最新的半导体器件特性表征。通过使用超快速IV量测技术,我们的用户可以得到以往无法得到但却至关重要的器件特性。 这一技术尤其对于那些在半导体器件研究前沿的客户(如High-K材料,SOI工艺,有机半导体体,新型存储器件,纳米器件等)尤为重要。
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